Modèle Oïdium du fraisier v.7.1

Fraise - Oïdium - v.7.1

Présentation du modèle

L’oïdium constitue actuellement le problème phytosanitaire dominant de la culture du fraisier. Son incidence est particulièrement notable et se traduit par une forte réduction du potentiel de rendement et par des fruits déclassés.
La protection du fraisier contre ce parasite reste problématique pour des raisons différentes : difficulté de déceler précocement la présence du champignon, absence de fongicides curatifs ou éradiquants performants, systèmes de culture très favorables au développement du champignon (hors sol et variétés de productions estivales).

De multiples travaux conduits ces dernières années par les équipes de recherche appliquée ont permis de mieux connaître le champignon. Certaines de ces études ont servi à améliorer un outil de prévision du risque oïdium mis en chantier par le Ctifl en partenariat avec InVenio en 2002.
La détermination des conditions favorables au champignon et l’élaboration des courbes de risque sont présentées dans le modèle.
L’outil de prévision est découpé en 5 compartiments correspondants aux étapes de la partie asexuée du cycle de développement du champignon :

• Phase de dissémination,
• Phase d’infection,
• Phase d’installation du mycélium,
• Phase de sporulation,
• Phase de progression de la tâche.

Domaine de fonctionnement :
Ce modèle a été validé sur le fraisier dans le Sud-Ouest de la France sous abri et en plein champ.
Il nécessite l'implantation de stations météorologiques in situ, dans l'abri, ou à proximité immédiate de la culture de plein champ.

Informations nécessaires :
Le modèle fait intervenir obligatoirement les données météorologiques horaires suivantes :